
纖維光學(xué)互連器件和無(wú)源器件鹽霧試驗檢測目的是比較相似結構纖維光學(xué)器件處于可控鹽霧大氣環(huán)境中抗腐蝕的能力。
試驗按照GB/T2423.17電工電子產(chǎn)品環(huán)境鹽霧試驗Ka進(jìn)行,樣品暴露在35℃的鹽霧試驗箱中。
試驗可以對防護層的質(zhì)量喝均勻性進(jìn)行評價(jià)。
試驗不適于:
1.不適用于通用的鹽腐蝕試驗。
2.不適用于預期用于直接暴露于鹽霧大氣環(huán)境中樣品的評價(jià)。
試驗設備:
鹽霧箱、儲存器、噴霧器、加熱器、濕潤器。
試驗按照電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗Ka鹽霧進(jìn)行。按照規定對樣品進(jìn)行制備。
條件試驗完成后,對樣品進(jìn)行觀(guān)測并記錄結果。要詳細給出涂鍍表面基底金屬的暴露、表面裂紋和脫落,防護層分離所表現出的蝕痕和蝕斑現象的記錄。應注意給出樣品、樣品中所含光纖或光纜的光投射性能變化。
嚴酷等級:
持續時(shí)間16h、24h、48h、96h、168h、336h、672h。
嚴酷等級由暴露持續時(shí)間組成。
規定細節:
持續時(shí)間;鹽霧濃度;樣品是否作光學(xué)監測;預處理程序;恢復程序;初始檢查、測量和性能要求;試驗過(guò)程中檢查、測量和性能要求;最后檢查、測量和性能要求;相對于本試驗程序的差異;附加“合格/不合格”判據。